由于許多高精密PCBA線路板在SMT加工過程中使用了大量的BGA和IC芯片,這些核心器件的封裝使得焊接后無法直接通過表面觀察其內(nèi)部的焊接情況。因此,在SMT貼片加工廠中必須配置相關(guān)的檢測系統(tǒng)。對于這類焊接檢測設(shè)備,中科芯聯(lián)主要采用了X-ray檢測設(shè)備技術(shù)。
那么我們今天要討論的主題是切片檢測的用途。切片檢測主要應(yīng)用于PCB電路板上,用于檢測PCB線路板的質(zhì)量。然而,在SMT貼片加工中,如果出現(xiàn)嚴(yán)重的質(zhì)量異常,也需要對整個(gè)焊接完成的線路板進(jìn)行特定部位的切片檢測。這兩種情況都是為了檢查焊接后線路板內(nèi)部的情況,只是應(yīng)用的階段不同。
X射線主要通過機(jī)器內(nèi)的發(fā)射器發(fā)射高能電子產(chǎn)生X射線來對樣品進(jìn)行透射成像。由于樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的密度不同,所以在X射線透過不同物體時(shí)會(huì)顯示出黑白灰度的差異,從而展示出樣品內(nèi)部的缺陷位置和形狀。X射線檢查是一種非破壞性的樣品分析方法,之后可以進(jìn)行其他檢測操作。
一、X-ray檢查的應(yīng)用范圍包括:
1、觀察IC封裝零件的內(nèi)部缺陷,包括布線斷裂、封裝材料中的孔洞和裂痕等異常情況。
2、觀察電子電路板的組裝焊接情況,包括是否有空焊、起毛、橋連等異常情況。
3、對焊接點(diǎn)內(nèi)存在的氣孔比例進(jìn)行分析
4、以不同角度觀察各種材料的正面、側(cè)面和傾斜面。
5、觀察多孔結(jié)構(gòu)內(nèi)的填充情況
二、交叉檢驗(yàn)(CrossValidationTest)
這項(xiàng)檢測主要針對樣品中的異常部位進(jìn)行破壞性分析。首先需要取樣異常部位,并用樹脂固化保存。接著進(jìn)行研磨拋光處理,最后使用顯微鏡對樣品進(jìn)行放大檢測。
與X光的廣泛應(yīng)用相比,切片檢測的使用頻率較低,也比較罕見。